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三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡要描述：
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧㈦娋€、電纜等在高低溫快速交變環(huán)境下，確定組件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力
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一、三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | BS-252IC |
試樣限制 | 本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)；儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)、儲(chǔ)存生物的試驗(yàn)、儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存 |
容積、重量和尺寸 | |
標(biāo)稱內(nèi)容積 | 252 L |
內(nèi)箱有效尺寸 | 700×600×600 W×H×D（mm） |
外形空間 | 約1650×2043×2225 W×H×D（mm） |
重量 | 1900㎏ |
噪音 | 75db以內(nèi)（離機(jī)臺(tái)正面1米并離地面1.2米處測(cè)量） |
二、三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
三、三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱使用環(huán)境條件：
- 環(huán)境溫度為5～30℃、相對(duì)濕度≤85%R.H；
- 安裝場(chǎng)地必須是平坦無振動(dòng)之地面；
- 設(shè)備需遠(yuǎn)離熱源及易燃、易爆物質(zhì)；
- 安裝位置不能受陽光直接照射，并維持室內(nèi)空氣流通；
- 設(shè)備安裝場(chǎng)地需清潔，不能安裝在灰塵較多的地方或排塵口等
