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PCB冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱-冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述：
PCB冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。
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一、PCB冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。是在同一臺(tái)設(shè)備里同時(shí)做冷熱交替循環(huán)測(cè)試或恒溫試驗(yàn)。
二、PCB冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
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三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
四、冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)畫面顯示功能：
1、采用人機(jī)交互方式,采用觸摸式輸入、控制
2、溫度設(shè)定(SV)實(shí)際(PV)值直接顯示
3、可顯示執(zhí)行程序號(hào)碼,段次,剩余時(shí)間及循環(huán)次數(shù), 運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間顯示
4、執(zhí)行程序動(dòng)作狀態(tài)顯示
5、語言轉(zhuǎn)換可以切換繁中/英文
6、 7.5寸液晶彩色顯示屏
